Jornada de Sistemas Inteligentes de Inspección

El día 21 de mayo se celebra la Jornada de Sistemas Inteligentes de Inspección en el Parque Científico de la Universidad Carlos III de Madrid.

Durante el evento se mostrarán varios casos de éxito de sistemas de inspección en diversos ámbitos (infraestructura, industria, electrónica...). Por parte de GMV, Ángel C. Lázaro, responsable de Robótica y Automatización del Sector Industria, imparte una ponencia bajo el título “uPathWay: Inteligencia Artificial y Robótica para tareas de inspección industriales”. Además, habrá una mesa redonda para recoger las mejores prácticas en inspección inteligente, una demostración en directo y una sesión de networking.

El evento está enmarcado dentro de la iniciativa europea EDIH Madrid Region para impulsar la digitalización de pymes y sector público. En esta iniciativa participa la Universidad Carlos III de Madrid junto a otros 10 socios bajo la coordinación de la Comunidad de Madrid.

REGISTRO